Röntgenfluorensenssi (XRF) on menetelmä, jolla voidaan tutkia kappaleiden alkuainekoostumusta. Tutkittavaan materiaaliin kohdistetaan suurienergistä röntgen- tai gammasäteilyä. Se saa atomien alimpien energiatilojen elektroneja irtoamaan, minkä seurauksena korkeamman energiatilan elektroneja siirtyy vapautuneisiin alempiin tiloihin. Siirtymät vapauttavat atomeista energiaa röntgenfotoneina. Eri atomien energiatilat poikkeavat toisistaan, joten ne emittoivat itselleen ominaisia röntgenaallonpituuksia. Tätä kutsutaan karakteristiseksi röntgensäteilyksi. Monielektroniatomeissa elektroneja on useilla eri energiatiloilla, joten alhaisen kuoren elektronin poistuminen voi synnyttää useita eri aallonpituuksia. Liitteenä olevassa taulukossa on lueteltu eri alkuaineiden [[$K_\alpha$]]- ja [[$K_\beta$]]-energioita. Nämä tarkoittavat siirtymiä L- ja M-kuorelta alimman energian K-kuorelle.

Erään metalliseoksen koostumusta tutkittiin XRF-menetelmällä. Materiaaliin kohdistettiin röntgensäteilyä. Materiaalin emittoimalle säteilylle mitattu spektri on annettu liitetiedostona. Taulukossa on lueteltu eräiden metallien karakteristisen säteilyn energioita. 

1. Esitä spektridata kuvaajana ja määritä havaitut karakteristisen säteilyn aallonpituudet.
2. Mitä alkuaineita näyte sisälsi?

Aineisto:
Taulukko: rontgenfluoresenssi.ods (LibreCalc)
Taulukko: rontgenfluoresenssi.cmbl (Logger Pro)
Taulukko: rontgenfluoresenssi.cap (Capstone)
Taulukko: rontgenfluoresenssi.gambl (Graphical Analysis)

Alkuaine	[[$ K_\alpha $]]​(eV)	[[$ K_\beta $]]​(eV)
Cr	5 415	5 947
Fe	6 405	7 059
Ni	7 480	8 267
Cu	8 046	8 904
Zn	8 637	9 570
Ga	9 251	1 027
Ge	9 886	1 098
As	10 540	11 726
Se	11 224	12 497